DIARTECH
Diagnostiс Analytic Research Technologies

Толщиномер защитных покрытий «Константа К6А»

Прибор предназначен для бесконтактного измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящих ферро- и неферромагнитных основаниях в составе автоматизированных систем.

Описание

Прибор предназначен для бесконтактного измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящих ферро- и неферромагнитных основаниях в составе автоматизированных систем.

  • комбинация оптического и вихретокового параметрического методов измерения расстояний;
  • возможность одновременной работы 8-ми вихретоковых преобразователей;
  • аналоговые выходы 4–20 мА для каждого вихретокового канала;
  • 8 дискретных каналов для подачи команд управления и 4 дискретных выхода для выдачи ответных сигналов;
  • высокая скорость измерений, частота обновления результата измерения по каждому каналу не менее 10 Гц;
  • возможность подключения к промышленным контроллерам Siemens, Omron и др;
  • широкие возможности для проектирования автоматизированных системы за счет программного обеспечения промышленного контроллера;
  • крепление блока обработки информации на DIN рейку.

Основные технические характеристики

Диапазон измерения:

вихретоковый канал

0–150 мм (в зависимости от типа вихретокового преобразователя)

оптический канал

5-150 мм (в зависимости от типа оптического преобразователя)

Число вихретоковых преобразователей

до 8-ми

Питание

24 В, 1 А

Масса блока обработки информации

350 гр.

Габаритные размеры

210×130×40 мм

Комплект поставки:

  • измерительный блок с преобразователями (число и модификация по выбору заказчика);
  • комплект соединительных проводов (зависит от модификации системы);
  • руководство по эксплуатации;
  • футляр;
  • комплект мер толщин.

Наши клиенты

ЦСМ Татарстан
ИОФХ
КМПО
ГУВ КМ РТ
ГНИИХТЭОС
ГАУЗ РКБ МЗ РТ
ОЭЗ ППТ Алабуга
КФУ
НИИ ТП
МУП Водоканал
КВЗ
ДАГДИЗЕЛЬ
КазХимНИИ
ФМБА России
НПЦАП
КГАВМ
КНИТУ-КАИ
КРЭТ
ФЦТРБ-ВНИВИ
СпбГУ
НПО НИПО
КГМУ Казань
УНИХИМ с ОЗ
КФТИ
КНИТУ
СамГТУ
КГМУ Курск
УГМС РТ
ФНИЦ КиФ РАН